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光切法顯微鏡9J(普通型)

光切法顯微鏡9J(普通型)

測量范圍▽3~▽9(12.5~0.2μm)
攝影裝置放大倍數:約6X
測量不平度范圍 :0.001~0.08mm

產品介紹

一、用途

9J光切法顯微鏡是以光切法測量零件加工表面的微觀不平度。適用于測量1.0~80微米即原標準▽3-▽9級表面光潔度。對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。 光切法特點是在不破壞表面的狀況下進行的。是一種間接測量方法。即要經過計算后才能確定紋痕的不平度。
 

二、技術規格

測量范圍不平度平均高度值 (um) 表面光潔度級別 所需物鏡 總放大倍數

物鏡組件

工作距離 (mm)

視場 (mm)

>1.0~1.6

>1.6~6.3

>6.3~20

>20~80

9

8~7

6~5

4~3

60timesN.A.0.55

30timesN.A.0.40

14timesN.A.0.20

7timesN.A.0.12

510times

260 times

120 times

60 times

0.04

0.2

2.5

9.5

0.3

0.6

1.3

2.5

1、攝影裝置放大倍數:約6X

2、測量不平度范圍 :0.001~0.08mm

3、不平寬度: 用測微目鏡: 0.0007~2.5mm;用坐標工作臺:0.01~13mm

4、儀器重量: 約23kg

5、外形尺寸: 約180×290×470mm

三、儀器成套性:

序 號 名稱 單位 數量
1 儀器本體 1
2 測微目鏡 1
3 坐標工作臺 1
4 V 型塊 1
5 標準刻尺(連盒) 1
6 7 倍物鏡 1
7 14 倍物鏡 1
8 30 倍物鏡 1
9 60 倍物鏡 1
10 可調變壓器220/4~6/5VA 1
11 2.1瓦6伏燈泡 (備用件) 3
12 產品使用說明書 1
13 產品合格證明 1
14 產品保修卡 1

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